Speaker
Shinya Aoyama
Description
地下宇宙素粒子実験では、検出器を構成する材料に含まれるRI不純物を極限まで低減する必要がある。本研究では、材料表面に由来するアルファ線の分析に注目し、CF₄ガス中の飛跡に沿って生じるGEM発光をCMOSカメラで直接撮像する光学系に基づいたTPCの開発を進めている。本検出器は、GEM–PMTによる時間情報に加えて、CMOSイメージから得られる空間情報を統合することで三次元飛跡の再構成を可能にする。本講演では、光学系を含む検出器構成、GEM発光イメージの取得結果、ならびに飛跡再構成と粒子識別に向けた今後の展望について報告する。
